《Nano Lett》：澤攸科技樣品桿應(yīng)用于CNTs缺陷調(diào)控
日期：2018-08-15
碳納米管（CNTs）中往往不可避免地存在結(jié)構(gòu)缺陷。這些結(jié)構(gòu)缺陷不僅會(huì)破壞晶格結(jié)構(gòu)的完整性，還有可能嚴(yán)重影響碳納米管的機(jī)械性能。但從另一個(gè)角度看，刻意而準(zhǔn)確地在CNTs中調(diào)控缺陷，可以按需求調(diào)節(jié)其機(jī)械性能。本文介紹了一種利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中準(zhǔn)確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術(shù)。這種技術(shù)不僅調(diào)節(jié)準(zhǔn)確、過(guò)程可逆并且還具有較高重復(fù)性，對(duì)基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。相關(guān)研究成果由廈門大學(xué)及日本NIMS研究所聯(lián)合完成，發(fā)表在《Nano Lett》上。
澤攸科技的PicoFemto原位TEM-STM系統(tǒng)在該研究中穩(wěn)定地完成了載樣、亞納米級(jí)操縱、施加高頻交變電場(chǎng)以及脈沖電流的工作。
研究者在TEM中，利用電子束輻照，將CNT的一端焊接在原位樣品桿的W針尖位置。通過(guò)在金電極和W針尖之間施加交變電流，使CNT發(fā)生諧振。
研究者利用納米操縱單元分別將CNT兩端與W針和金電極接觸，并通過(guò)脈沖電流和電子束輻照實(shí)現(xiàn)對(duì)CNT中缺陷的調(diào)制。此過(guò)程可以通過(guò)TEM圖像實(shí)時(shí)原位觀測(cè)。
通過(guò)在原位探針桿上安置力學(xué)模塊，研究者進(jìn)一步研究了調(diào)制后的CNT的機(jī)械性能。
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作者：小攸