九月，與澤攸科技相約在悉尼
International Microscopy Congress (IMC) 被譽為顯微鏡領域的奧林匹克，每四年舉辦一次。會議匯聚了一批 透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
International Microscopy Congress (IMC) 被譽為顯微鏡領域的奧林匹克，每四年舉辦一次。會議匯聚了一批 透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
MEMS-STM-TEM一體化樣品桿，基于STM納米操縱技術的原位解決方案。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元，結(jié)合I-V測量、光學-光電測量、低溫或者力學測量單元，在TEM中實現(xiàn)原位亞
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
2018年2月7日上午， 銅陵市市委書記李猛一行蒞臨安徽澤攸科技有限公司慰問指導，并與公司首席科學家白雪冬教授親切交流。李書記參觀了公司車間、產(chǎn)品展示區(qū)和辦公區(qū)，在聽取白教
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
2018年澤攸科技已確認參加的展會安排如下，歡迎各位老師前來交流指導： 5月10日-5月13日： 2018年華東地區(qū)(電子)顯微學學術交流會，地點：福州市 鼓樓區(qū) 西湖賓館。 5月10日-5月12日：
MORE INFO → 公司新聞 2018-04-25