掃描電鏡圖像上出現(xiàn)條紋或亮點是什么原因？

掃描電鏡（SEM）圖像上出現(xiàn)條紋或亮點的原因可能有多種。

掃描電鏡是怎么成像的？

掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像的原理，是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產(chǎn)生的各種信號來形成圖像。

掃描電子顯微鏡（SEM）需要真空環(huán)境，主要原因如下：

掃描電子顯微鏡（SEM）通常在高真空環(huán)境下工作，因此潮濕或液態(tài)樣品在常規(guī) SEM 中容易脫水、蒸發(fā)、膨脹或塌陷，影響成像效果。

在掃描電鏡（SEM）中，調整襯度（Contrast）和亮度（Brightness）對于增強樣品的細節(jié)非常重要，尤其是在觀察低對比度或高動態(tài)范圍的樣品時。

在掃描電鏡（SEM）中，非導電樣品容易因電子束轟擊產(chǎn)生充電效應（charging），導致圖像失真或信號丟失。

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像對焦困難的主要原因包括樣品高度不均、電子束參數(shù)設置不當、充電效應、振動干擾等。針對不同情況，可以采取相應的調整方法來改善焦點，提高成像清晰度。

在掃描電子顯微鏡（SEM）下，樣品容易發(fā)生充電效應（charging effect），主要原因是：